Финансовая и информационная
поддержка ::: Микротестмашины

1996–2008

12 лет
семинару
БелСЗМ
BelSZM VIII (logo) VIII Международный семинар
МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ
МИКРОСКОПИИ
2008

Минск, Беларусь   •••   8–10 октября 2008 г.

 

• ВСЕ СЕМИНАРЫ БелСЗМ

 

• ДОКЛАДЫ

• ФОТОАЛЬБОМ

• ПРОГРАММА »»

• ПРИГЛАШЕНИЕ

• ОРГАНИЗАТОРЫ
• ОРГ. КОМИТЕТ
• ТЕМАТИКА
• МЕСТО И ВРЕМЯ
• РЕГЛАМЕНТ
• ПУБЛИКАЦИЯ
• ОПЛАТА
• РАЗМЕЩЕНИЕ
• ЗАЯВКА НА УЧАСТИЕ
• АДРЕС

 

 ПРОГРАММА СЕМИНАРА

PDF В формате PDF
(131 kB)

 PDF-file 

 

PosterПлакат семинара
586x416 px,
79 kB, JPG

 

 ДЛЯ КОНТАКТОВ


Оргкомитет БелСЗМ-VIII
ГНУ "Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси"
ул. П.Бровки 15,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел.: +375 17 2841060
Факс: +375 17 2842212 (резервный +375 232 715463)

e-mail: byspm@mail.ru (резервный - microtm@mail.ru)

Телефоны для справок:

Чижик Сергей Антонович +375 17 2842137,
+375 29 6841060 (моб.)

Абетковская Светлана Олеговна -
+375 17 2841060,
+375 29 5578530 (моб.)

Суслов Андрей Анатольевич -
+375 232 715463,
+375 29 6774642 (моб.)
 

 
 
••• ПРОГРАММА  

 

8 октября 2008 г.
9:00 – 10:30 РЕГИСТРАЦИЯ
10:30 – 11:00 ОТКРЫТИЕ VIII Международного семинара “Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии–2008”
11:00 – 13:30 ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ.
Председатель секции – член-корр. НАН Беларуси Ю. М. Плескачевский
11:00 – 11:30 Свириденок А.И., Чижик С.А. (г. Гродно, Беларусь, г. Минск, Беларусь)
СЗМ—"глаза и руки нанотехнологий"
11:30 – 12:00 Sukhanova T. E., Volkov A.Ya., Vylegzhanina M.E., Matveeva G.N., Kutin A.A., Gubanova G.N., Grigoriev A.I., Santurian J.G., Panarin E.F., and Goerigk G. (Saint-Petersburg, Russia; Hamburg, Germany)
AFM, X-Ray and Electron Microscopy study of silver nanoparticles stabilized by amphiphilic polymers
12:00 – 12:30 Миронов В.Л., Ермолаева О.Л., Фраерман А.А. (г. Нижний Новгород, Россия)
Влияние зонда магнитно-силового микроскопа на намагниченность исследуемых образцов
12:30 – 13:00 Бондаренко М.А., Бондаренко Ю.Ю., Канашевич Г.В., Яценко И.В. , Ващенко В.А., Конопальцева Л.И.  (г. Черкассы, Украина, г. Киев, Украина)
Исследование поверхностей пьезокерамических элементов, модифицированных электронным потоком методом атомно-силовой микроскопии
13:00 – 13:30 Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Основные направления развития СЗМ в Беларуси
13:30 – 14:50 Обед
14:50 – 16:50 СЕКЦИЯ 1А. СЗМ-исследования нанообъектов и тонких пленок.
Председатель секции – С.А. Чижик
14:50 – 15:10 Демидова А.Е. (г. Минск, Беларусь)
Создание комплекта эталонных мер для линейных измерений в нанометровом диапазоне
15:10 – 15:30 Суханова T.E., Вылегжанина М.Э., Шибинский Н.А., Волков A.Я., Валуева С.В., Хлебосолова Е.Н., Федосеенко С.И., Адамчук В.К., Ефимов И.П. (г. С.-Петербург, Россия)
АСМ-исследование наночастиц платины, стабилизированных различными полимерными матрицами, предотвращающими агрегацию
15:30 – 15:50 Gubanova G.N., Sukhanova T.E., Vylegzhanina M.E., Grigoriev A.I., Bershtein V.A. (St.-Petersburg, Russia)
Atomic force microscopy and structural investigations of R-Bapb-Type Polyimide films modified by carbon nanofibers
15:50 – 16:10 Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е., Марчик Н.А. (г. Минск, Беларусь)
Пленки Ленгмюра-Блоджетт амфифильных полимеров
16:10 – 16:30 Шадрина В.И., Башмаков И.А., Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е, Капуцкий Ф.Н. (г. Минск, Беларусь)
Исследование морфологии микроструктурированных сетчатых пленок с помощью сканирующей зондовой микроскопии
16:30 – 16:50 Лисовская Г.Б., Жавнерко Г.К., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Диагностика прекурсоров желатиновых капсул с помощью АСМ и СЭМ
 17:30 Экскурсионная программа: автобусный тур “Минск – столица Беларуси”
   
9 октября 2008 г.
9:00 – 10:20 СЕКЦИЯ 1Б. Структура и локальные физико-механические свойства материалов.
Председатель секции – В.Л. Миронов
9:00 – 9:20 Игнатовский М.И., Кравцевич А.В. (г. Гродно, Беларусь)
Применение сканирующей зондовой микроскопии в исследованиях поверх-ности полимерных композитов: пленки на основе микро- и наномодифициро-ванного поливинилового спирта
9:20 – 9:40 Барайшук С.М., Ташлыков И.С., Туровец А.И. (г. Минск, Беларусь)
Применение асм при изучении морфологии поверхности графита, подвергнутого ионно-лучевой обработке
9:40 – 10:00 Котов Д.А. (г. Минск, Беларусь)
Изучение морфологии поверхности волокон диаметром 10–30 мкм, обрабо-танных направленным потоком ионов
10:00 – 10:20 Баран Л.В. (г. Минск, Беларусь)
исследование локальных электрических свойств пленок титан-фуллерит методом электросиловой микроскопии
10:20 – 10:40 Кузнецова Т.А., Нгуен Хоанг Иен, Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование зависимости структуры молекулярно тонких пленок полимера поливинилпиридина от температуры
10:40 – 11:00 Рыбалко О.Г., Загорский Д.Л., Бедин С.А. (г. Москва, Россия)
Зондовые методы в исследовании композитного материала полимер – металлические микропроволоки
11:00 – 11:30 Перерыв
11:30 – 13:30 СЕКЦИЯ 1В. Применение методов СЗМ в биологических исследованиях.
Председатель секции – Т.Г. Кузнецова
11:30 – 11:50 Кухаренко Л.В., Крылов А.Б., Лещенко В.Г., Ильич Г.К. (г. Минск, Беларусь)
Обучение студентов с использованием глобальной сети интернет по теме "Зондовая микроскопия в медико-биологических исследованиях"
11:50 – 12:10 Кухаренко Л.В., Фукс Х., Циркунова Н.Г., Кухаренко А.А., Бараймуков В.Ю., Лещенко В.Г. (г. Минск, Беларусь, г.Мюнстер, Германия, г. Санкт-Петербург, Россия)
Атомно-силовая микроскопия в исследовании морфологии поверхности клеток при апоптозе
12:10 – 12:30 Стародубцева М.Н., Егоренков Н. И. (г. Гомель, Беларусь)
Микроскопия латеральных сил клеточных структур
12:30 – 12:50 Никитина И.А., Стародубцева М.Н., Грицук А.И. (г. Гомель, Беларусь)
Использование атомно-силовой микроскопии для изучения тимоцитов крыс
12:50 – 13:10 Дрозд Е.С., Чижик С.А., Квитко О.В., Конева И.И., Шейко Я.И. (г. Минск, Беларусь)
Исследование опухолевых клеток методом атомно-силовой микроскопии
13:10 – 14:30 Обед
14:30 – 18:10 СЕКЦИЯ 2. Развитие аппаратных и программных средств СЗМ. Новые методики СЗМ.
Председатель секции – Г.К. Жавнерко
14:30 – 14:50 Ясинский В.М., Чикунов В.В. (г. Минск, Беларусь)
Сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп
14:50 – 15:10 Бауков В.В., Жижимонтов В.В., Беляев А.В.  (г. Зеленоград, Россия)
Низкошумящий датчик отклонения кантилевера для атомно-силового микроскопа
15:10 – 15:30 Грищенко Ю.В., Занавескин М.Л., Калачикова Е.С., Толстихина А.Л. (г. Москва, Россия)
Определение параметров регулярных поверхностных наноструктур по данным атомно-силовой микроскопии с помощью функции спектральной плотности мощности
15:30 – 15:50 Vo Thanh Tung, Chizhik S.A., Chikunov V.V., Siroezkin S. V., Tran Xuan Hoai, Nguyen Thi Hong (Minsk, Belarus, Vietnam)
Introduction to a quartz tuning fork combined with scanning probe microscope
15:50 – 16:10 Vo Thanh Tung (Minsk, Belarus)
Development of a tuning fork based atomic force microscopy (fork-afm) for imaging on erythrocytes
16:10 – 16:30 Нгуен Тхи Хонг, Во Тхань Тунг, Чижик С. А. (г. Минск, Беларусь)
Роль добротности камертоного датчика в атомно-силовой микроскопии
16:30 – 16:50 Перерыв
16:50 – 18:10 СЕКЦИЯ 3. Моделирование микро- и наномасштабных процессов с использованием СЗМ-данных.
Председатель секции – Т.Е. Суханова
16:50 – 17:10 Айзикович С.М., Кренев Л.И., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. (г. Ростов-на-Дону, Россия; г. Минск, Беларусь)
Внедрение сферического штампа в функционально-градиентный слой с изменяющимися модулем Юнга и коэффициентом Пуассона
17:10 – 17:30 Баркалин В.В., Чашинский А.С., Жучек П.А., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Молекулярно-динамическая модель зонда на основе углеродной нанотрубки
17:30 – 17:50 Абетковская С.О. (г. Минск, Беларусь)
Оценка предельных возможностей неразрушающей нанотомографии на базе динамического режима АСМ
17:50 – 18:10 Погоцкая И.В., Абетковская С.О., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Влияние физико-механических свойств “мягких” материалов на характеристи-ки колебаний зонда в динамической атомно-силовой микроскопии
   
10 октября 2008 г.
10:00 – 12:00 СЕКЦИЯ 4. Смежные вопросы микро-, наномеханики и микро-, нанотрибологии.
Председатель секции – А.А. Суслов
10:00 – 10:20 Белозерцева В.И., Хляп Г.М., Дьяконенко Н.Л., Мамалуй А.А., Гаман Д.А. (г. Харьков, Украина, Kaiserslautern, Germany)
Особенности структуры и свойств тонких пленок NaBiTe2
10:20 – 10:40 Кузнецова Т.А., Маркова Л.В., Андреев М.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование структуры многослойных вакуумных покрытий методом атомно-силовой микроскопии
10:40 – 11:00 Джилавдари И.З., Ризноокая Н.Н. (г. Минск, Беларусь)
Измерение гистерезисных потерь и работы адгезии на отрыв на участках субмикронной длины
11:00 – 11:20 Zhytkova M.A., Rymuza Z., Chizhik S.A., Ocypa L. (Minsk, Belarus; Warsaw, Poland)
Possible causes of Young modulus spring near-surface of the thin polymer films
11:20 – 11:40 Шипица Н.А., Жарин А.Л., Белый А.В., Сарока Д.И., Таран И.И., Кузнецова Т.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия методом сканирующего зонда Кельвина
11:40 – 12:00 Шипица Н.А., Шевченок А.А., Урбанович В.С., Сарока Д.И. (г. Минск, Беларусь)
Исследование влияния режимов обработки оксидной керамики на поверхностный потенциал образца
12:00 – 12:20 Перерыв
12:20 – 13:30 СТЕНДОВЫЕ ДОКЛАДЫ
СТ 1
Короткое сообщение 12:20 – 12:25		 Гайнутдинов Р.В., Волк Т.Р., Толстихина А.Л., Ивлева Л.И., Лысова О.А., Разгонов И.И. (г. Москва, Россия, г. Черноголовка, Россия)
исследование процессов переключения в сегнетоэлектрических кристаллах ниобата бария–стронция методом атомно-силовой микроскопии
СТ 2
Короткое сообщение 12:25 – 12:30		 Ковалева С.А., Пилипенко В.А., Сякерский В.С., Петлицкая Т.В., Витязь П.А., Буйко Л.Д. (г. Минск, Беларусь)
Морфология и структура локальных анодных пленок оксида кремния, полученных зондовым окислением с использованием атомно-силового микроскопа
СТ 3
Короткое сообщение 12:30 – 12:35		 Кузнецова Т.А., Худолей А.Л., Акулич В.В (г. Минск, Беларусь)
Наноструктурирование алмазоподобных пленок
СТ 4
Короткое сообщение 12:35 – 12:40		 Худолей А.Л., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Выявление сплошности соединения и межфазных границ наплавленных покрытий из медных сплавов
СТ 5 Шарапов В.М., Филимонов С.А. (г. Черкассы, Украина)
Сканер для зондовых наномикроскопов на основе биморфных пьезоэлементов
СТ 6 Скоркина М.Ю., Сладкова Е.А. (г. Белгород, Россия)
Исследование морфометрических параметров эритроцитов лягушек методом сканирующей зондовой микроскопии
13:30 – 14:40 Обед
14:40 – 15:40 КРУГЛЫЙ СТОЛ. ЗАКРЫТИЕ СЕМИНАРА.

 
ОРГКОМИТЕТ БелСЗМ-VIII
Last update October 3,2008

 

Hosted by uCoz