ДОБРО ПОЖАЛОВАТЬ!

БелСЗМ-5

Минск,
Беларусь

7-8 октября
2002 г.

::::::::::::::::::::

Адрес:


БелСЗМ-5
ИФТТП НАН Беларуси
ул. П.Бровки 17,
220072 г. Минск,
Беларусь

Тел.(+375)-(17)
2841182

Fax: (+375)-(17)
2840888

E-mail:
nanom@ifttp.bas-net.by

Internet:
http://microtm.com/
events/byspm2002

 

Немного истории

БелСЗМ-5
Минск,
октябрь 2002 г.
(ИФТТП НАНБ)

БелСЗМ-4
Гомель,
октябрь 2000 г.
(ИММС НАНБ)

БелСЗМ-3
Гродно,
октябрь 1998 г.
(ОПР НАНБ)

БелСЗМ-2
Минск,
май 1997 г.
(ИФТТП НАНБ)

БелСЗМ-1
Гомель,
апрель1996 г.
(ИММС НАНБ)

 

 

5-й Белорусский семинар по
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Минск, Беларусь
7-8 октября 2002 г.

BelSZM 5 logo
Финансовая и
информационная
поддержка :::
Микротестмашины
ИЗВЕЩЕНИЕ №1 | ПРОГРАММА | СБОРНИК ДОКЛАДОВ
  
БелСЗМ 5 :: ТЕМАТИКА
 
  1. Новые методики СЗМ.
  2. Развитие аппаратных и программных средств СЗМ
  3. СЗМ в науке и технике. Нанотехнологии.
  4. Смежные в опросы физики и химии наноструктур, микромеханики.
  
БелСЗМ 5 :: ОРГАНИЗАТОРЫ
 
  
БелСЗМ 5 :: ОРГАНИЗАЦИОННЫЙ КОМИТЕТ
 
  • Олехнович Н. М. академик НАНБ, ИФТТП НАНБ, председатель
  • Плескачевский Ю. М. член-корр. НАНБ, ИММС НАНБ, сопредседатель
  • Свириденок А. И. академик НАНБ, ОПР НАНБ, сопредседатель
  • Стукалов О. М., ИФТТП НАНБ, отв. секретарь
  • Агабеков В. Е., д.х.н., член-корр. НАНБ, ИХНМ НАНБ
  • Анищик В. М., д.ф.-м.н., БГУ
  • Борисенко В. Е., д.ф.-м.н., БГУИР
  • Гапоненко С. В., д.ф.-м.н., ИМАФ НАНБ
  • Свекло И. Ф., к.ф.-м.н., ОПР НАНБ
  • Суслов А. А., к.т.н., ИММС НАНБ
  • Федосюк В. М., д.ф.-м.н., ИФТТП НАНБ
  • Чижик С. А., д.т.н., ИММС НАНБ
  
БелСЗМ 5 :: АДРЕС ОРГКОМИТЕТА :: МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ
 
БелСЗМ-5
Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси НАН Беларуси
ул. П.Бровки 17,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел. (+375)-(17)- 284-11-82
Fax: (+375)-(17)- 284-08-88
E-mail: nanom@ifttp.bas-net.by
Internet: http://microtm.com/events/byspm2002
     
  
БелСЗМ 5 :: ПРОГРАММА
 
  7 октября, понедельник

8:30-12:00

Регистрация и расселение участников.

12:00

Открытие семинара

12:10

Развитие приложений СЗМ для оценки локальных механических свойств поверхности
А.А. Суслов, С.А. Чижик, В. В. Чикунов
Институт механики металлополимерных систем НАНБ, Гомель

12:40

Аналитическая бионаноскопия
И.В. Яминский
Центр перспективных технологий, Московский государственный университет, Россия

13:10-14:30

Обеденный перерыв

14:30

Наномеханическая оценка методом динамической силовой спектроскопии упругих свойств поверхностей оргстекла обработанных с помощью (water jet technology) высоконапорной водной струи
С.А. Чижик1, А.И. Свиридёнок2, М.И. Игнатовский2, Hartmut Louis3
1Институт механики металлополимерных систем НАНБ, Гомель
2НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно
3Hannover Institut fuer Werkstoffkunde, Hannover, Germany

14:50

Использование АСМ для контроля технологических параметров приготовления микроэлектронных приборов на основе высокотемпературных сверхпроводящих пленок La2-XSrXCuO4
И.Ф. Свекло
НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно

15:10

Формирование наноразмерных фоторезистивных масок с помощью сканирующего зондового микроскопа
Н.Г. Лазарева1, О.В. Сергеев1, В.Н. Пономарь2, Г.Г. Чигирь2, В.А. Ухов2, А.М. Козлов1, В.Е. Борисенко1
1 Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск
2 УП “Белмикросистемы” НПО “Интеграл”, Минск

15:30

Сканирующая резистивная микроскопия микропроволок
П. А. Бородин1, А. А. Бухараев1, И.А. Рыжиков2, С. А. Маклаков2, Л.А. Алексеева2
1 Казанский физико-технический институт КазНЦ РАН, Казань, Россия
2 Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН, Москва, Россия

15:50

АСМ исследования наноостровков на поверхности полупроводниковых структур
П.М. Литвин, И.В. Прокопенко, В.П. Кладько, Л.Л. Федоренко
Институт физики полупроводников НАН Украины, Киев

16:10-16:30

Кофе-брейк

16:30

Интернет-лаборатория сканирующей зондовой микроскопии
А.С. Филонов, И.В. Яминский
Центр перспективных технологий, Московский государственный университет

16:50

Наномасштабная репликация поверхности с помощью полимерных материалов
А.Д.Ахсахалян, Д.Г.Волгунов, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, В.Л.Миронов, Н.Н.Салащенко, С.А.Тресков
Инстиут физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород, Россия

17:10

Изучение особенностей роста тонких полимерных покрытий методом ССМ
А. А. Рогачев
Белорусский государственный университет транспорта, г. Гомель

17:30

Восстановление формы иглы АСМ с помощью деконволюции
Д.В. Овчинников, А.А. Бухараев, П.А. Бородин
Казанский физико-технический институт КазНЦ РАН, Казань

17:50

Анализ схем реализации механической части сканирующих зондовых микроскопов
А.А. Суслов, С.А. Чижик
ОДО “Микротестмашины”

  8 октября, вторник

9:30

Плотность фотонных состояний в мезоскопических структурах и ее оптическое проявление
С.В. Гапоненко
Институт молекулярной и атомной физики НАНБ, Минск

10:10

Towards nanometric optical tweezers through near-field photochemistry
P. Karageorgiev, L. Brehmer
Institute of Physics, University of Potsdam, Germany

10:40

Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в исследовании атмосферных аэрозолей
Б.К. Сушко, Р.З. Бахтизин, Д.В. Гайнуллин
Башкирский государственный университет, Уфа, Россия

11:00

Преимущества и недостатки метода атомно-силовой микроскопии при исследовании многослойных композиционных покрытий
М.А. Андреев, Т.А. Кузнецова, Л.В. Маркова, В.А. Чекан
Институт порошковой металлургии НАНБ, Минск

11:20-11:40

Кофе-брейк

11:40

Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент
А.Е. Почтенный1, О.М. Стукалов2, И.П. Ильюшонок1
1Белорусский государственный технологический университет, Минск
2Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ, Минск

12:00

Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов
О.М. Стукалов1, А.Е. Почтенный2, В.Л. Миронов 3, Б.А. Грибков3, С.В. Гапонов3
1Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ, Минск
2Белорусский государственный технологический университет, Минск
3Инстиут физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия

12:20

Исследование микрорельефа поверхности химически осажденных матриц SiO2 — носителей функциональных элементов
А.Н. Мурашкевич, Т.В. Камлюк, В.Г. Вашина, О.Н. Сергеева, И.М. Жарский
Белорусский государственный технологический университет, Минск

12:40

Применение атомно-силовой микроскопии для исследования процессов реакционной диффузии при синтезе пленок BaFe12O19
В.В. Паньков1,2,3, С.В. Смоленчук3, O. Бабушкин4, А. Барсолдсон4
1 Институт общей и неорганической химии НАН Беларуси
2 Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси
3 Белорусский государственный технологический университет
4 Технологический университет г. Лулеа, Швеция

13:00

Атомно-силовая микроскопия клеток РС12 до и после воздействия внешнего индуктора апоптоза – пероксида водорода
Л.В.Кухаренко1, Г.К.Ильич1, В.Г.Лещенко1, Р.И.Гронская2, А.А. Кухаренко3
1Белорусский государственный медицинский университет
2Институт физиологии НАНБ
3Белорусский государственный университет

13:20-14:30

Обеденный перерыв

14:30

Исследования особенностей моно- и мультислоев органических пленок методом АСМ
И.В. Парибок, М.С. Парфенова, Г.К. Жавнерко, В.Е. Агабеков
Институт химии новых материалов НАН Беларуси

14:50

Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок n,n-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты
А.Н. Лаппо1, А.В. Мисевич1, А.Е. Почтенный1, О.М. Стукалов1, Г.К. Жавнерко2
1 Белорусский государственный технологический университет
2 Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси
3 Институт химии новых материалов НАН Беларуси

15:10

Применение АСМ для анализа морфологии поверхности ультратонких металлических пленок
А.И. Стогний 1, Н.Н. Новицкий 2
1УП “Завод Транзистор” НПО “Интеграл”, г. Минск
2Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ

15:30

АСМ-анализ процесса сглаживания интрефейсных границ наноразмерных многослойных структур Co/Cu
Н.Н. Новицкий
Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ

15:50

Микромеханические исследования физических характеристик поверхности оргстекла, обработанной высоконапорной водной струёй (water jet technology)
А.И. Свиридёнок, М.И. Игнатовский
НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно

16:10

Кофе-брейк

16:30

Дискуссия

17:00

Закрытие семинара

   
  Стендовые доклады

1.

Флуоресцентные свойства кантилеверов атомно-силового микроскопа
А.Гайдук1, М.Антоник2, Р.Кюнемуд2, К.Сандхаген2, В.Кудрявцев2, К.Зайдель2
1Институт молекулярной и атомной физики НАНБ
2Макс-Планк-Институт Биофизической Химии, Гёттинген, Германия

2.

Восстановление СТМ изображений атомарной структуры поверхности пиролитического графита методом деконволюции с учётом нелокальности взаимодействия в системе зонд-поверхность
К.П.Гайкович, Б.А.Грибков, А.В.Жилин, В.Л.Миронов
Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород, Россия

3.

Сравнительные АСМ - СТМ исследования морфологии пленок YBaCuO различного катионного состава
Н.В.Востоков, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, Д.В.Мастеров, В.Л.Миронов
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия

     
this page design :: andrei suslov :: suslov@tut.by
Hosted by uCoz