5th Belarussian Seminar on Scanning Probe Microscopy

ДОБРО ПОЖАЛОВАТЬ!

БелСЗМ-5

Минск,
Беларусь

7-8 октября
2002 г.

::::::::::::::::::::

Адрес:

БелСЗМ-5
ИФТТП НАН Беларуси
ул. П.Бровки 17,
220072 г. Минск,
Беларусь

Тел.(+375)-(17)
2841182

Fax: (+375)-(17)
2840888

E-mail:
nanom@ifttp.bas-net.by

Internet:
http://microtm.com/
events/byspm2002

Немного истории

БелСЗМ-5
Минск,
октябрь 2002 г.
(ИФТТП НАНБ)

БелСЗМ-4
Гомель,
октябрь 2000 г.
(ИММС НАНБ)

БелСЗМ-3
Гродно,
октябрь 1998 г.
(ОПР НАНБ)

БелСЗМ-2
Минск,
май 1997 г.
(ИФТТП НАНБ)

БелСЗМ-1
Гомель,
апрель1996 г.
(ИММС НАНБ)

5-й Белорусский семинар по
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Минск, Беларусь
7-8 октября 2002 г.

Финансовая и
информационная
поддержка :::
Микротестмашины


ИЗВЕЩЕНИЕ №1 \| ПРОГРАММА \| СБОРНИК ДОКЛАДОВ


БелСЗМ 5 :: ТЕМАТИКА

Новые методики СЗМ.
Развитие аппаратных и программных средств СЗМ
СЗМ в науке и технике. Нанотехнологии.
Смежные в опросы физики и химии наноструктур, микромеханики.



БелСЗМ 5 :: ОРГАНИЗАТОРЫ

Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси (г. Минск)
Институт механики металлополимерных систем им. В. А. Белого НАН Беларуси (г. Гомель)
Отдел проблем ресурсосбережения НАН Беларуси (г. Гродно)
Институт химии новых материалов НАН Беларуси (г. Минск)
ОДО "Микротестмашины" (г. Гомель)



БелСЗМ 5 :: ОРГАНИЗАЦИОННЫЙ КОМИТЕТ

Олехнович Н. М. академик НАНБ, ИФТТП НАНБ, председатель
Плескачевский Ю. М. член-корр. НАНБ, ИММС НАНБ, сопредседатель
Свириденок А. И. академик НАНБ, ОПР НАНБ, сопредседатель
Стукалов О. М., ИФТТП НАНБ, отв. секретарь
Агабеков В. Е., д.х.н., член-корр. НАНБ, ИХНМ НАНБ
Анищик В. М., д.ф.-м.н., БГУ
Борисенко В. Е., д.ф.-м.н., БГУИР
Гапоненко С. В., д.ф.-м.н., ИМАФ НАНБ
Свекло И. Ф., к.ф.-м.н., ОПР НАНБ
Суслов А. А., к.т.н., ИММС НАНБ
Федосюк В. М., д.ф.-м.н., ИФТТП НАНБ
Чижик С. А., д.т.н., ИММС НАНБ



БелСЗМ 5 :: АДРЕС ОРГКОМИТЕТА :: МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ

БелСЗМ-5
Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси НАН Беларуси
ул. П.Бровки 17,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел. (+375)-(17)- 284-11-82
Fax: (+375)-(17)- 284-08-88
E-mail: nanom@ifttp.bas-net.by
Internet: http://microtm.com/events/byspm2002



БелСЗМ 5 :: ПРОГРАММА

	7 октября, понедельник
8:30-12:00	Регистрация и расселение участников.
12:00	Открытие семинара
12:10	Развитие приложений СЗМ для оценки локальных механических свойств поверхности А.А. Суслов, С.А. Чижик, В. В. Чикунов Институт механики металлополимерных систем НАНБ, Гомель
12:40	Аналитическая бионаноскопия И.В. Яминский Центр перспективных технологий, Московский государственный университет, Россия
13:10-14:30	Обеденный перерыв
14:30	Наномеханическая оценка методом динамической силовой спектроскопии упругих свойств поверхностей оргстекла обработанных с помощью (water jet technology) высоконапорной водной струи С.А. Чижик¹, А.И. Свиридёнок², М.И. Игнатовский², Hartmut Louis³¹Институт механики металлополимерных систем НАНБ, Гомель ²НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно ³Hannover Institut fuer Werkstoffkunde, Hannover, Germany
14:50	Использование АСМ для контроля технологических параметров приготовления микроэлектронных приборов на основе высокотемпературных сверхпроводящих пленок La₂-XSrXCuO₄И.Ф. Свекло НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно
15:10	Формирование наноразмерных фоторезистивных масок с помощью сканирующего зондового микроскопа Н.Г. Лазарева¹, О.В. Сергеев¹, В.Н. Пономарь², Г.Г. Чигирь², В.А. Ухов², А.М. Козлов¹, В.Е. Борисенко¹¹Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск ²УП “Белмикросистемы” НПО “Интеграл”, Минск
15:30	Сканирующая резистивная микроскопия микропроволок П. А. Бородин¹, А. А. Бухараев¹, И.А. Рыжиков², С. А. Маклаков², Л.А. Алексеева²¹ Казанский физико-технический институт КазНЦ РАН, Казань, Россия ²Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН, Москва, Россия
15:50	АСМ исследования наноостровков на поверхности полупроводниковых структур П.М. Литвин, И.В. Прокопенко, В.П. Кладько, Л.Л. Федоренко Институт физики полупроводников НАН Украины, Киев
16:10-16:30	Кофе-брейк
16:30	Интернет-лаборатория сканирующей зондовой микроскопии А.С. Филонов, И.В. Яминский Центр перспективных технологий, Московский государственный университет
16:50	Наномасштабная репликация поверхности с помощью полимерных материалов А.Д.Ахсахалян, Д.Г.Волгунов, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, В.Л.Миронов, Н.Н.Салащенко, С.А.Тресков Инстиут физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород, Россия
17:10	Изучение особенностей роста тонких полимерных покрытий методом ССМ А. А. Рогачев Белорусский государственный университет транспорта, г. Гомель
17:30	Восстановление формы иглы АСМ с помощью деконволюции Д.В. Овчинников, А.А. Бухараев, П.А. Бородин Казанский физико-технический институт КазНЦ РАН, Казань
17:50	Анализ схем реализации механической части сканирующих зондовых микроскопов А.А. Суслов, С.А. Чижик ОДО “Микротестмашины”
	8 октября, вторник
9:30	Плотность фотонных состояний в мезоскопических структурах и ее оптическое проявление С.В. Гапоненко Институт молекулярной и атомной физики НАНБ, Минск
10:10	Towards nanometric optical tweezers through near-field photochemistry P. Karageorgiev, L. Brehmer Institute of Physics, University of Potsdam, Germany
10:40	Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в исследовании атмосферных аэрозолей Б.К. Сушко, Р.З. Бахтизин, Д.В. Гайнуллин Башкирский государственный университет, Уфа, Россия
11:00	Преимущества и недостатки метода атомно-силовой микроскопии при исследовании многослойных композиционных покрытий М.А. Андреев, Т.А. Кузнецова, Л.В. Маркова, В.А. Чекан Институт порошковой металлургии НАНБ, Минск
11:20-11:40	Кофе-брейк
11:40	Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент А.Е. Почтенный¹, О.М. Стукалов², И.П. Ильюшонок¹¹Белорусский государственный технологический университет, Минск ²Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ, Минск
12:00	Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов О.М. Стукалов¹, А.Е. Почтенный², В.Л. Миронов ³, Б.А. Грибков³, С.В. Гапонов³¹Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ, Минск ²Белорусский государственный технологический университет, Минск ³Инстиут физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия
12:20	Исследование микрорельефа поверхности химически осажденных матриц SiO₂ — носителей функциональных элементов А.Н. Мурашкевич, Т.В. Камлюк, В.Г. Вашина, О.Н. Сергеева, И.М. Жарский Белорусский государственный технологический университет, Минск
12:40	Применение атомно-силовой микроскопии для исследования процессов реакционной диффузии при синтезе пленок BaFe₁₂O₁₉В.В. Паньков^1,2,3, С.В. Смоленчук³, O. Бабушкин⁴, А. Барсолдсон⁴¹Институт общей и неорганической химии НАН Беларуси ²Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси ³Белорусский государственный технологический университет ⁴Технологический университет г. Лулеа, Швеция
13:00	Атомно-силовая микроскопия клеток РС12 до и после воздействия внешнего индуктора апоптоза – пероксида водорода Л.В.Кухаренко¹, Г.К.Ильич¹, В.Г.Лещенко¹, Р.И.Гронская², А.А. Кухаренко³¹Белорусский государственный медицинский университет ²Институт физиологии НАНБ ³Белорусский государственный университет
13:20-14:30	Обеденный перерыв
14:30	Исследования особенностей моно- и мультислоев органических пленок методом АСМ И.В. Парибок, М.С. Парфенова, Г.К. Жавнерко, В.Е. Агабеков Институт химии новых материалов НАН Беларуси
14:50	Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок n,n-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты А.Н. Лаппо¹, А.В. Мисевич¹, А.Е. Почтенный¹, О.М. Стукалов¹, Г.К. Жавнерко²¹Белорусский государственный технологический университет ²Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси ³Институт химии новых материалов НАН Беларуси
15:10	Применение АСМ для анализа морфологии поверхности ультратонких металлических пленок А.И. Стогний ¹, Н.Н.Новицкий ²¹УП “Завод Транзистор” НПО “Интеграл”, г. Минск ²Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ
15:30	АСМ-анализ процесса сглаживания интрефейсных границ наноразмерных многослойных структур Co/Cu Н.Н. Новицкий Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ
15:50	Микромеханические исследования физических характеристик поверхности оргстекла, обработанной высоконапорной водной струёй (water jet technology) А.И. Свиридёнок, М.И. Игнатовский НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно
16:10	Кофе-брейк
16:30	Дискуссия
17:00	Закрытие семинара

	Стендовые доклады
1.	Флуоресцентные свойства кантилеверов атомно-силового микроскопа А.Гайдук¹, М.Антоник², Р.Кюнемуд², К.Сандхаген², В.Кудрявцев², К.Зайдель²¹Институт молекулярной и атомной физики НАНБ ²Макс-Планк-Институт Биофизической Химии, Гёттинген, Германия
2.	Восстановление СТМ изображений атомарной структуры поверхности пиролитического графита методом деконволюции с учётом нелокальности взаимодействия в системе зонд-поверхность К.П.Гайкович, Б.А.Грибков, А.В.Жилин, В.Л.Миронов Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород, Россия
3.	Сравнительные АСМ - СТМ исследования морфологии пленок YBaCuO различного катионного состава Н.В.Востоков, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, Д.В.Мастеров, В.Л.Миронов Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия

this page design :: andrei suslov :: suslov@tut.by