Режимы движения при измерениях:
- по участку;
- по линии;
- в отдельной точке

1. Контактная статическая АСМ
2. Латерально-силовая микроскопия /одновременно с контактной статической АСМ/
3. Бесконтактная динамическая АСМ
4. Полуконтактная динамическая АСМ (аналог Tapping Mode®)
5. Микроскопия фазового контраста /одновременно с полуконтактной динамической АСМ/
6. Двухпроходный режим (для статической и динамической АСМ)
7. Двухпроходный режим с переменным подъемом (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/
8. Многоцикловое сканирование участка (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/
9. Многослойное сканирование участка с переменной нагрузкой (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/
10. Электростатическая силовая микроскопия (двухпроходная методика) *, **
11. Токовый режим *, **
12. Магнитно-силовая микроскопия (двухпроходная методика) *, **
13. Статическая силовая спектроскопия (с расчетом количественных характеристик, поверхностной энергии и модуля упругости образца в точке анализа)
14. Динамическая силовая спектроскопия
15. Динамическая частотная силовая спектроскопия /Оригинальная методика!/
16. Наноиндентирование *
17. Наноцарапание *
18. Наноизнашивание по линии *
19. Нанолитография (с контролем <i> прижатия, <ii> глубины внедрения, <iii> напряжения смещения) *
20. Микротрибометрия * /Оригинальная методика!/
21. Микроадгезиометрия * /Оригинальная методика!/
22. Микротрибометрия в режиме shear-force * /Оригинальная методика!/
23. Температурно-зависимые измерения (для всех вышеперечисленных режимов) *

Примечание.
* - требуется использование специализированной оснастки
** - требуется использование специализированных зондов