Данный семинар проводится в рамках конферернции NANOMEETING-97

Satellite of NANOMEETING-97, Minsk, 19-23 May, 1997

• Институт физики твердого тела и полупроводников АНБ
• Институт механики металлополимерных систем им. В.А.Белого АНБ
• Институт молекулярной и атомной физики АНБ
• Белорусский государственный университет
• Отдел проблем ресурсосбережения АНБ

Адрес Оргкомитета:

Беларусь, Минск, 220072, ул. П. Бровки 17,
Институт физики твердого тела и полупроводников,
Солонович Валентин Кириллович
Факс: 0172-32-46-94
Тел.: 0172-68-41-82
E-mail : levchen@lfp.basnet.minsk.by
levchen@ifttp.basnet.minsk.by (Солонович В.К.) postmaster@phchinst.
belpak.minsk.by (Гурии B.C.)

МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ

Конференц-зал Института физики твердого тела и полупроводников АНБ

ул. П. Бровки 17, 220072 г. Минск, Беларусь

Регистрация участников семинара - с 9.00 до 15.00 23 мая 1997 г. в Институте физики твердого тела и полупроводников АНБ (Минск, ул. П.Бровки, 17).

Открытие семинара состоится в 15.00 23 мая 1997 г. в конференц-зале Института физики твердого тела и полупроводников АНБ

Библиография

Второй Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ-2). Краткие сообщения. - Минск: ЗАО "Деловая Инициатива", 1997. - 87 с., ил.

ВВЕДЕНИЕ

       В последнее время весьма интенсивно развивается новое направление в области физики поверхности твердых тел - сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ), которая включает в себя сканирующую туннельную микроскопию (СТМ) и спектроскопию, атомно-силовую (АСМ) и целый ряд совершенно новых разновидностей микроскопических методик (сканирующая емкостная зондовая, сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля, сканирующая магнитная и др.). СЗМ позволяет получать информацию о локальной структуре поверхности твердых тел на атомно-молекулярном уровне. Это направление оказало заметное влияние не только на фундаментальные исследования поверхностных свойств тонких органических и неорганических пленок и биологических объектов, но и в прикладных задачах, в частности, адгезии и трения, формирования искусственных наноструктур, например, для записи и считывания информации с помощью СТМ, а также для задач нанотехнологии при создании квантовых проводников, наноэлектронных элементов и др.

       Первый Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии, организованный по инициативе ИММС АНБ, ИФТТП АНБ и БГУ, проходил в г. Гомеле в 1996 г. с участием ведущих специалистов Беларуси. Оргкомитет семинара принял решение о ежегодной периодичности его проведения*. Настоящий семинар расширил круг участников за счет специалистов России и Украины.

       Основные направления исследований в области СЗМ в Беларуси следующие:

- локальная структура самоорганизованных органических пленок, а также пленок Легмюра-Блоджетт;

- большепольная АСМ и контроль топографии поверхности материалов различной химической природы для решения задач трибологии;

- исследование процессов формирования ультрадисперсных частиц и кластеров полупроводников на поверхности, направленная манометровая модификация поверхности тонких пленок;

- разработка методов обработки АСМ и СТМ изображений;

- контроль поверхности полимерных и композиционных пленочных структур.

* Примечание. С 1998 г. решено проводить семинар БелСЗМ один раз в два года.