Финансовая и информационная
поддержка ::: Микротестмашины

1996–2006

10 лет
семинару
БелСЗМ
 
BelSZM 7 (logo) VII Международный семинар
МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ
МИКРОСКОПИИ
2006

Минск, Беларусь   •••   1–3 ноября 2006 г.

 

• СЕМИНАРЫ БелСЗМ

 

• ДОКЛАДЫ

• ФОТОАЛЬБОМ

• ПРЕССА О СЕМИНАРЕ

• ПРОГРАММА »»

• ПРИГЛАШЕНИЕ

• ОРГАНИЗАТОРЫ
• ОРГ. КОМИТЕТ
• ТЕМАТИКА
• МЕСТО И ВРЕМЯ
• РЕГЛАМЕНТ
• ПУБЛИКАЦИЯ
• ОПЛАТА
• РАЗМЕЩЕНИЕ
• ЗАЯВКА НА УЧАСТИЕ
• АДРЕС

 

 ПРОГРАММА СЕМИНАРА

В формате DOC (60 kB)
В формате PDF (180 kB)

 DOC-file   PDF-file 
 
 КАК ДОБРАТЬСЯ?


См. схему и комментарии
 
 
ПОГОДА
 

 
 Прогноз 
 
 КАЛЕНДАРЬ

 
Работа семинара:
1–3 ноября 2006 г. 
 
 
 ПРЕДЫДУЩИЕ
 СЕМИНАРЫ

БелСЗМ-6
Минск, октябрь 2004 г.
(ИТМО НАНБ)

БелСЗМ-5
Минск, октябрь 2002 г.
(ИФТТП НАНБ)

БелСЗМ-4
Гомель, октябрь 2000 г.
(ИММС НАНБ)

БелСЗМ-3
Гродно, октябрь 1998 г.
(ОПР НАНБ)

БелСЗМ-2
Минск, май 1997 г.
(ИФТТП НАНБ)

БелСЗМ-1
 Гомель, апрель 1996 г.
(ИММС НАНБ)
 
 ДЛЯ КОНТАКТОВ


Оргкомитет БелСЗМ-7
ГНУ "Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси"
ул. П.Бровки 15,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел.: +375 17 2841060
Факс: +375 17 2842212 (резервный +375 232 715463)

e-mail: byspm2006@mail.ru (резервный - microtm@mail.ru)

Телефоны для справок:

Чижик Сергей Антонович +375 17 2841060,
+375 29 6841060 (моб.)

Абетковская Светлана Олеговна -
+375 17 2841060,
+375 29 5578530 (моб.)

Суслов Андрей Анатольевич -
+375 232 715463,
+375 29 6774642 (моб.)
 
 
ДРУГИЕ КОНФЕРЕНЦИИ
ПО СЗМ В БЕЛАРУСИ
 
NANOMEETING
 
 

 
 
••• ПРОГРАММА СЕМИНАРА  

Последнее обновление - 30 октября 2006 г.

 Библиографическая информация 
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии
VII Международный семинар. Сборник докладов. Минск, 1–3 ноября 2006 г. –
Минск: Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси, 2006. – 268 с. – ISBN 985-6456-53-3
 
1 ноября 2006 г.
9:00 – 14:00 РЕГИСТРАЦИЯ
14:00 – 14:30 Открытие 7-го Международного семинара “Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии” – БелСЗМ-2006
14:30 – 16:00 Председатель: член-корр НАН Беларуси Плескачевский Ю. М.
14:30 – 14:50 Свириденок А. И. (Гродно, Беларусь)
Актуальные проблемы применения СЗМ в Беларуси
14:50 – 15:10 Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е. (Минск, Беларусь) 
Метод микроконтактной печати, локальная модификация поверхности и интерпретация данных сканирующей зондовой микроскопии
15:10 – 15:30 Брич М. А., Чижик С. А. (Минск, Беларусь) 
Моделирование взаимодействия углеродной нанотрубки, как зонда АСМ, с кристаллом алмаза
15:30 – 15:45 Миронов В. Л., Грибков Б. А., Никитушкин Д. С., Фраерман А. А. (Нижний Новгород, Россия)
Магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных наночастиц
15:45 – 16:00 Миронов В. Л., Никитушкин Д. С., Грибков Б. А., Гусев С. А. (Нижний Новгород, Россия)
Магнитно-силовая микроскопия слабокоэрцитивных ферромагнитных наночастиц
16:00 – 16:30 ПЕРЕРЫВ
16:30 – 18:10 Председатель: Жавнерко Г. К.
16:30 – 16:50
 		 Чижик С. А., Шкадаревич А. П., Кузнецова Т. А., Курганович А. М. (Минск, Беларусь)
Контроль поверхностей лазерной оптики методом АСМ
16:50 – 17:10 Berezina S., Zinin P. (Жилина, Словакия)
Nondestructive Characterization of thick DLC-films
17:10 – 17:30 Ясинский В. М., Ивакин Е. В., Суходолов А. В., Хайруллина А. Я., Кокиц А. Н. (Минск, Беларусь) 
Исследование особенностей возбуждения плазмон-поляритонов в периодически наноструктурированных металлических пленках методом фотонной сканирующей туннельной микроскопии
17:30 – 17:50 Сошников А. И., Гоголинский К. В., Решетов В. Н. (Троицк, Россия)
Исследование с помощью СЗМ “Наноскан” свойств области контакта токопроводящих алмазных зондов с поверхностью
17:50 – 18:10 Kukharenko L. V., Fuchs H., Leshchenko V. G., Gelis L. G., Lazareva I. V. (Минск, Беларусь)
Surface Morphological change Invesgation in surface activated platelets with the scanning force microscope
   
2 ноября 2006 г.
9:00 – 11:00 Председатель: Миронов В. Л.
9:00 – 9:20 Плескачевский Ю. М., Суслов А. A., Чикунов В. В., Цуан Янь, Чижик С. A. (Минск, Гомель, Беларусь)
Самоорганизация поверхностных слоев твердых покрытий при трении
9:20 – 9:40 Wielgo K., Ekwińska M., Rymuza Z. (Варшава, Польша)
Nanoindentation studies of oxynitride ultrathin films for MEMS applications
9:40 – 10:00 Pustan M., Rymuza Z. (Варшава, Польша)
Scale effect on mechanical properties of movable MEMS structures tested by AFM
10:00 – 10:20 Балабанова Н., Чикунов В. В., Римуза З. (Варшава, Польша; Минск, Беларусь)
Влияние сонорных осцилляций и топографии поверхности на адгезионные свойства полимерных покрытий
10:20 – 10:40 Koszewski A., Gorski T., Rymuza Z. (Варшава, Польша)
Estimation of Young`s modulus of ultrathin polymeric films for nanoimprint lithography by use of AFM
10:40 – 11:00 Chizhik S. A., Vo Thanh Tung, Chikunov V. V., Nguyen Tho Vuong (Минск, Беларусь; Вьетнам)
Interactions of quartz tuning fork of atomic force microscope operating under shear-force and taping modes
11:00 – 11:30 ПЕРЕРЫВ
11:30 – 13:30 Председатель: Ясинский В. М.
11:30 – 11:50 Игнатовский М. И. (Гродно, Беларусь)
К вопросу о применении зондовой микроскопии для исследования полимерных композитов
11:50 – 12:10 Романюк В. Л., Гременок В. Ф., Меркулов В. С., Залесский В. Б., Ермаков О. В., Чигирь Г. Г., Сякерский В. С., Абетковская С. О. (Минск, Беларусь)
Исследование морфологии поверхности тонких сегнетоэлектрических пленок BaxSr1-xTiO3 с помощью атомно-силового микроскопа
12:10 – 12:30 Гончарова О. В., Гременoк В. Ф., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
Применение сканирующей зондовой микроскопии для исследования влияния толщины пленочных слоев сульфида индия на их структуру
12:30 – 12:50 Пилипенко В. А., Петлицкая Т. В., Чижик С. А., Кузнецова Т. А. (Минск, Беларусь)
Исследование топологии интегральных микросхем методом атомно-силовой микроскопии
12:50 – 13:10 Сыроежкин С. В., Журавский В. С., Губанов А. В., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
Многоуровневая реконструкция АСМ-изображений
13:10 – 13:30 Артамонов В. В., Алексеенко А. А., Бойко А. А., Подденежный Е. Н. (Гомель, Беларусь)
Применение метода СЗМ для анализа структурных особенностей гель-стекол и керамики
13:30 – 14:30 ОБЕД
14:30 – 15:45 Председатель: Суслов А. А.
14:30 – 14:50 Довбешко Г. И., Фесенко О. М. (Киев, Украина)
Структура и свойства металлических наноповерхностей, усиливающих оптические сигналы
14:50 – 15:10 Дубравин А. М. (Гомель, Беларусь)
Моделирование динамического контакта Зонд - Образец.
15:10 – 15:25 Абетковская С. О., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
Влияние параметров зонда и образца на фазовый контраст и деформирование в контакте зонд-образец для динамического режима АСМ
15:25 – 15:40 Бондаренко М. А., Шевченко Ю. Б., Бойко В. П., Коваленко Ю. И., Яценко И. В., Канашевич Г. В., Ващенко В. А. (Черкассы, Украина)
Исследование микрогеометрии поверхности оптических стекол после электронной и после лазерной обработки методом атомно-силовой микроскопии
15:40 – 15:55 Бондаренко М. А., Бондаренко Ю. Ю., Бабаев А. К., Яценко И. В., Рева И. А., Конопальцев Л. И., Ващенко В. А. (Черкассы, Украина)
Применение метода атомно-силовой микроскопии в прогнозировании срока эксплуатации пьезоэлектрических преобразователей медицинских приборов
15:55–16:15 ПЕРЕРЫВ
16:15 – 17:35 Председатель: Кухаренко Л. В.
16:15 – 16:35 Стародубцева М. Н., Кузнецова Т. Г., Егоренков Н. И. (Гомель, Беларусь)
АСМ исследование эритроцитов, кренированных активными формами азота
16:35 – 16:55 Кузнецова Т. Г., Стародубцева М. Н., Егоренков Н. И. (Гомель, Беларусь)
Определение механических свойств клеточных поверхностей
16:55 – 17:15 Слобожанина Е. И., Козлова Н. М., Ясинский В. М., Филимоненко Д. С., Хайруллина А. Я. (Минск, Беларусь)
Исследование Zn-индуцированных изменений в эритроцитарных мембранах методом атомно-силовой микроскопии
17:15 – 17:35 Трушко А. В., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
АСМ анализ хрящевых тканей
   
3 ноября 2006 г.
10:00 – 11:15 Председатель: Меркулов В. С.
10:00 – 10:20 Джилавдари И. З., Какошко Е. Ю. (Минск, Беларусь)
Исследование упругих растяжений и диссипации энергии на поверхности кристалла методом микродеформаций под действием качающегося шарика
10:20 – 10:40 Айзикович С. М., Кренев Л. И. Трубчик И. С. (Ростов-на-Дону, Россия)
Статическое исследование механических свойств функционально-градиентных покрытий при воздействии с поверхности
10:40 – 11:00 Шипица Н. А. (Минск, Беларусь)
Исследования поверхности сканирующим датчиком Кельвина
11:00 – 11:15 Циркунова Н. Г., Борисенко В. Е. (Минск, Беларусь)
Геометрия зондовой микроскопии: Влияние радиуса закругления зонда на точность форми-руемого изображения
11:15 – 11:45 ПЕРЕРЫВ
11:45 – 13:00 Председатель: Чижик С. А.
11:45 – 12:10 Киселева О. И. (Москва, Россия)
Новое оборудование компании Veeco для исследования свойств полупроводниковых материалов на наноуровне
12:10 – 12:35 Малиновская О. С. (Москва, Россия)
Исследование нанотрубок и других углеродных наноструктур с помощью сканирующего туннельного микроскопа НТК “Умка”
12:35 – 13:00 Суслов А. А., Шашолко Д. И. (Гомель, Беларусь)
Использование программного пакета "SurfaceXplorer" для обработки, визуализации и анализа СЗМ-изображений
   
СТЕНДОВЫЕ ДОКЛАДЫ
СТ 1 Дубравин А. М., Комков О. Ю. (Гомель, Беларусь)
Контролируемое перемещение наночастиц по поверхности подложки в режиме кратковременного контакта зонда с поверхностью образца
СТ 2 Дубравин А. М., Комков О. Ю., Yoon Eui-Sung (Гомель, Беларусь; Сеул, Корея)
Формирование нанорельефа при локальном оксидировании поверхности кремния с помощью атомно-силового микроскопа
СТ 3 Дубравин А. М.,. Комков О. Ю, Браилко Н. Н. (Гомель, Беларусь)
Некоторые особенности АСМ изображений и их коррекции
СТ 4 Барайшук С. М., Верес О. Г., Ташлыков И. С. (Минск, Беларусь)
Топография и свойства поверхности изделий, модифицированных ионно-ассистированным осаждением покрытий
СТ 5 Чапланова Ж. Д., Михайловский Ю. К., Агабеков В. Е., Ольховик В. К., Галиновский Н. А., Грачева Е. А. (Минск, Беларусь